Ультразвуковой дефектоскоп

Предназначен для контроля сварных швов, поиска трещин, внутренних расслоений, мест коррозии и других дефектов. С его помощью определяют координаты и оценивают параметры нарушений однородности и сплошности материала в пластмассовых и металлических изделиях. Прибор может также использоваться для измерения толщины изделий. Оборудование реализует специализированные и типовые методики контроля ультразвуком, точность измерений и высокую производительность.

Основные характеристики:

Диапазон измерений расстояния до дефекта при скорости ультразвука 5500 м/с (сталь), мм: от 600 до 3 000;

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений расстояния до дефекта при скорости ультразвука: 5500 м/с (сталь), мм, не более, где L – измеряемая глубина залегания дефекта в мм ±(0,05L+1,00);

Диапазон устанавливаемых скоростей ультразвука, м/с: от 500 до 15 000;

Рабочая частота преобразователей, кГц: от 25 до 250;

Диапазон перестройки калиброванного усилителя, дБ: от 0 до 100;

Источник питания: Аккумулятор;

Номинальное значение напряжения аккумуляторного блока, В: 11,1;

Время непрерывной работы от аккумуляторного блока при нормальных климатических условиях, ч: не менее 8;

Габаритные размеры электронного блока, мм: 260×157×43;

Масса электронного блока, кг, не более: 0,8;

Средняя наработка на отказ, ч: 18 000;

Средний срок службы, лет: не менее 8;

Условия эксплуатации: температура окружающей среды, °C: от -20 до +55;

относительная влажность воздуха при температуре 35°C, %: не выше 95;

Комплектация:

·         А1220 ANKER - электронный блок УЗ дефектоскопа со встроенным аккумулятором;

·         Преобразователь S0205 0.025A0R20Х20CL;

·         Кабель LEMO-LEMO одинарный 1,2 м;

·         Кабель USB A – Micro B;

·         Сетевой адаптер с кабелем 220 В - 15 В;

·         Компакт-диск с документацией и ПО;

·         Планшет D12;

·         Чехол D12;

·         Жесткий кейс М20;

Производитель: АКС

Страна выпуска: Россия

В пользовании:
НИИОСП им. Н. М. Герсеванова
Лаборатория механики мерзлых грунтов и расчета оснований